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基于特征提取及数据扩充的GA- LightGBM半导体质量检测方法(2024)

发布时间：2025-12-18  点击次数：

发表刊物：重庆邮电大学学报自然科学版

合写作者：周丽芳，赵波，谭佳伟，王淑影

第一作者：程云飞

论文类型：期刊论文

是否译文：否

上一条：区间删失数据下 Weibull 比例优势模型的参数估计(2024)

下一条：区间删失数据下基于OLLGG分布的 多参数回归模型的参数估计(2023)

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